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测试设备校正周口-验厂
发布用户:styqjcgs
发布时间:2024-05-16 19:11:12
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测试设备校正验厂 我们选用的PLC为台达公司的DVP32EH,附加8路AD和DA模块,使用Delta_ WPLSoft_ V2.33软件编写PLC控制程序,程序内容包括PLC对高低温试验装置各个组件例如抽气泵、阀门、加热关等的逻辑控制,数据的读出和写人以及其他相关功能。
传感器输出100kHz±50kHz脉冲对应0±5Nm扭矩。调试中发现,驱动器上电但未启输出,电机转轴处于自由静止状态,测量到一个较大的值。用示波器测量传感器输出,发现100kHz脉冲上每个几个周期出现一些尖峰振荡,经过比较器后多了些脉冲,导致测频结果高于100kHz。那么干扰信号从何而来?首先怀疑是驱动器,驱动器断电干扰消失。把传感器电缆从传感器处拔出,100kHz和干扰都没有了。证明干扰由驱动器产生,通过驱动器输出线、电机、扭矩传感器及连线耦合到PA。
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3、传感器的仪器校准实验
(1) 仪器校准实验过程
传感器的校准实验是为了测试高温微压力传感器在不同温度环境下,尤其是在高温环境下能否保持较高的测量精度和重复性,进而根据实验数据对传感器进行仪器校准,使得传感器能够在温度变化的环境下保持较高的测量精度和测量重复性。
仪器校准实验按照校准原理可分为以下环节:①测试传感器在不同温度下的压力敏感性能;②测试传感器输出与环境温度之间的关系,并以此对传感器进行校准,对温度的影响作出补偿;③压力、温度复合加载试验,测试校准后的传感器能否满足实际的应用需求。
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很多人似懂非懂,却无从下手。如何使用示波器设置或数据的存储功能,对所测的数据进行二次分析存储,由此上演了犹抱琵琶半遮面的经典桥段。接下来让我们来揭它神秘的面纱,让你从此保存文件不再是难题。示波器的存储字面上理解也就是将所需的波形信息以不同的格式存储下来便于我们更深入的分析,存储有以下几个方面的内容:存储的类型:有设置文件、二进制数据、CSV数据、图像格式(BMP图像、JPG图像、PNG图像、灰度图像);存储方式:PrintScreen(一键存储)、Save/Recall(存储)、PC联机截图、以及ScopeReportTM;存储路径:本地闪存和外部存储器(将U盘接入示波器USB口即可)。
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如果不符合要求则需要重新校准,结果仍不理想则表明传感器自身存在缺陷,需要进一步优化设计。
由上述可知,传感器的校准需要大量的实验,受篇幅所限在此不多赘述,故这里只测试传感器在不同温度下的压力敏感性能,目的是验证该仪器校准实验系统是否达到期望的使用要求。
(2) 实验结果
调节载荷室温度至30℃,保持温度恒定的同时逐步增大压力,记录反射光波长,反复测量3次;提高载荷室腔内温度至250℃,重复上述实验。实验数据如表1所示。
经过计算,在30℃温度环境下,传感器非线性为1.77%,重复 ℃高温环境下,传感器非线性为3.05%,重复性为2.07,综合精度为5.12%。以上结果表明,温度升高对实验传感器的输出有较明显的影响,整体性能也有所降低。此外,通过此次仪器校准实验,很好地验证了该校准实验系统的使用性能,在实验过程中,载荷室内温度能长时间稳定在设定值±2℃的范围内,压力调节方便可靠,能较快地达到设定气压值,并稳定在设定值10.2Pa的范围内。
测试设备校正周口-验厂
动能由姿控、轨控发动机组合直接控制力,采用侧窗探测红外凝视成像寻的末制导,能够识别、锁定并直接碰撞摧毁道头。这一防御系统对亚太地区尤其对势必带来诸多麻烦。但大家认为萨德系统对的威胁并非是拦截,而是其二核心组件雷达系统。AN/TPY-2X波段相控阵雷达,是世界上性能 强的陆基机动反导探测雷达之一,该雷达探测距离约2公里,对反射面积为1平方米(典型道头的反射面积)的目标的探测距离约12千米,可以说一旦部署,大半个都在该系统的 之下。
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综上所述,该仪器校准实验系统使此次校准实验进行顺利,很好地满足了实际需求,达到了设计要求。
4、结束语
通过分析高温光纤微压力传感器的测量结构和仪器校准原理,设计了一套基于高低温试验装置和上位机人机软件的校准实验系统,在地面实验室模拟了传感器实际测压环境,实现了传感器在高温微小压力环境下的校准。实验结果表明,该仪器校准实验系统能很好地满足测试需求,是一个稳定可靠、安全便捷的测试,为下一步传感器的仪器校准工作了保障。
测试设备校正周口-验厂 是全实物测试,将待测装备置于演习或实际 ,利用实际存在的复杂电磁环境对装备性能进行测试。此种方式 说服力,通常作为成熟型号武器装备的 终测试方法。因为此方式成本极高、风险大,很多场合是破坏性测试,并且所得到测试结果不具备遍历性,无法满足装备研制过程中的绝大多数的常规测试需求。第二种是基于计算机、数据库等技术的全数字测试。这种技术是通过数据采集或者数学建模的方式,将实际电磁环境的主要特征信息以数字格式存储于数据库中,在某种特定算法的驱动下,对待测装备的性能进行全数字测试。
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